手机可靠性测试按键测试，充电器拔插测试，导线暴动疲劳试验等结构耐久性测试

手机可靠性测试常规测试条件

酷构耐久测试（Mechanical Endurance Test

-样品标准数量：

8台。

◆测试周期：7天。

测试目的：各结构件寿命测试。

结构耐久性测试

按键测试|||侧键测试|||翻盖/滑盖|||重复跌落|充电插拔100，000次|||50，000次|||100，000次|||6，000次|||3，000次电池/盖|耳机插拔|||笔插拔|SIM卡插拔

2，000次|||3.000次|||20，000次|||500次线拉拽||线弯曲线摆动

100次|||3，000次|3，000次

触摸屏点击测试||触摸屏划线测试250，000次||100，000次

1.按键测试（Keypad Test）

令测试环境：室温（20~25°C）；4台手机；手机设置成关机状态。

令测试方法：导航键及其他任意键进行10万次按压按键测试。

·试验标准：手机按键弹性及功能正常。

2.侧键测试（Side Key Test）

令测试环境：室温（20~25°C）；4台手机；手机设置成关机状态；5万次按压。

今·试验标准：手机按键弹性及功能正常。

3.翻盖测试（F1ip Life Test）

个测试环境：室温（20~25°C）；4台手机；手机设置成开机状态；10万次开合翻盖测试。

·试验标准：6万次后，手机外观，结构，及功能正常。

4.滑盖测试（Slide Life Test）

令测试环境：室温（20~25°C）；4台手机；手机设置成开机状态；8万次滑盖测试。

.试验标准：6万次后，手机外观，结构，及功能正常，滑盖不能有松动。

5.重复跌落测试（Micro-Drop Test）

·测试环境：室温（20~25°C）；7cm高度，20mmPVC板；4台手机；开机状态；6000次。

◆测试标准：手机各项功能正常，外壳无变形、破裂、掉漆，显示屏无破碎，晃动无异响。

6.充电器插拔测试（Charger Test）

令·测试环境：室温（20~25°C）；4台手机。

试验方法：将充电器接上电源，连接手机充电接口，等待手机至充电界面显示正常后，拔除充电插头。在开机不插卡状态下插拔充电3000次。

检验标准：I/0接口无损坏，焊盘无脱落，充电功能正常。无异常手感。

7.笔插拔测试（Stylus Test）

测试环境：室温（20~25°C）；4台手机；开机状态；2万次。

·检验标准：手机笔输入功能正常，插入拔出结构功能、外壳及笔均正常。

8.触摸屏点击试验（Point Activation Life Test）

试验条件：触摸屏测试仪，直径为0.8mm的塑料手写笔或随机附带的手写笔试验方法：2台手机；将手机设置为开机状态，点击同一位置250，000次，点击力度为250g；点击速度：2次/秒；

·检验标准：不应出现电性能不良现象；表面不应有损伤

9.触摸屏划线试验（Lineation Life Test）

-试验条件：触摸屏测试仪，直径为0.8mm的塑料手写笔或随机附带的手写笔

-试验方法：2台手机；将手机设置为关机状态，在同一位置划线至少100，000次，力度为250g，滑行速度：60mm/秒

-检验标准：不应出现电性能不良现象；表面不应有损伤

10.电池/电池盖拆装测试（Battery/Battery Cover Test）

·测试环境：室温（20~25°C）；4台手机；将电池/电池盖反复拆装1000次。

-检验标准：手机及电池卡扣功能正常无变形，电池触片、电池连接器应无下陷、变形及磨损的现象，外观无异常。

11.SIMCard 拆装测试（SIM Card Test）

测试环境：室温（20~25°C）；4台手机；SIM卡插上取下反复500次。

·检验标准：SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常，手机读卡功能使用正常。

12.耳机插拔测试（Headset Test）

令测试环境：室温；4台手机；开机状态；耳机插入耳机插孔再拔出，3000次。

检验标准：实验后检查耳机插座无焊接故障，耳机插头无损伤，使用耳机通话接收与送话无杂音（通话过程中转动耳机插头），耳机插入手机耳机插孔时不会松动（可以承受得住手机本身的重量）。

13.导线连接强度试验（Cable Pulling Endurance Test）

令·测试环境：室温（20~25°C）；令实验方法：选取靠近耳塞的一段导线，将其两端固定在实验机上，用20N士2N的力度持续拉伸6秒，循环100次。

今·检验标准：导线功能正常，被覆外皮不破裂，变形。

14.导线折弯强度试验（Cable Bending Endurance Test）

令测试环境：室温（20~25°C）；令实验方法：分别选取靠近耳塞和靠近插头的一段导线，将导线的两端固定在实验机上，做0mm~25mm折弯实验3000次。

令-检验标准：导线功能正常，被覆外皮不破裂，变形。

15.导线摆动疲劳试验（Cable Swing Endurance Test）

令测试环境：室温（20~25°C）；令实验方法：分别将耳机和插头固定在实验机上，用1N的力，以90°~120°的角度反复摆动耳机末端3000次。

今·检验标准：导线功能正常，被覆外皮不破裂。